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三次元測量儀器和二次元的測量儀不同與原理

編輯:惠州市宏泰光學儀器有限公司時間:2019-07-05

隨著科技發展,對各種工件和零件的測量精度越來越高,對測量儀器的要求也是越來越苛刻,二次元影像測量儀是對傳統的測量技術的飛躍性發展,是將傳統的光學投影和計算機完美結合的產物。[二次元影像測量儀]是當今工業檢測與計量技術領域中的一個新名詞,它代表的是數位科技溶入工業檢測與計量,進行空間幾何運算的先進測量技術。二次元影像測量儀(又名影像式測繪儀)是建立在CCD數位影像的基礎上,依托於計算機屏幕測量技術和空間幾何運算的強大軟件能力而產生的。

三坐標測量機(CMM)的測量方式通常可分為接觸式測量、非接觸式測量和接觸與非接觸並用式測量。其中,接觸測量方式常用於機加工產品、壓製成型產品、金屬膜等的測量。為了分析工件加工數據,或為逆向工程提供工件原始信息,經常需要用三坐標測量機對被測工件表麵進行數據點掃描。

三次元測量儀的掃描操作是應用DMIS程序在被測物體表麵的特定區域內進行數據點采集,該區域可以是一條線、一個麵片、零件的一個截麵、零件的曲線或距邊緣一定距離的周線等。

將被測物體置於三坐標測量空間,可獲得被測物體上各測點的坐標位置,根據這些點的空間坐標值,經計算求出被測物體的幾何尺寸,形狀和位置。

基本原理就是通過探測傳感器(探頭)與測量空間軸線運動的配合,對被測幾何元素進行離散的空間點位置的獲取,然後通過一定的數學計算,完成對所測得點(點群)的分析擬合,最終還原出被測的幾何元素,並在此基礎上計算其與理論值(名義值)之間的偏差,從而完成對被測零件的檢驗工作.